-
- HD-FT50NIR半導體膜厚測試儀
半導體膜厚測試儀能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。廣泛應用于半導體與微電子制造、顯示面板、光學器件制造、生物醫學、汽車及新材料與新能源研發等領域，能滿足從晶圓鍍膜、顯示面板薄膜到光學元件鍍膜、醫用植入物涂層、汽車玻璃膜層及新能源薄膜的高精度厚度檢測需求，助力各行業提升產品質量與研發效率。
- 型號：HD-FT50NIR
- 更新日期：2026-03-10 ￥面議
-
- HD-FT50NIR反射式光學膜厚儀
反射式光學膜厚儀能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。廣泛應用于半導體與微電子制造、顯示面板、光學器件制造、生物醫學、汽車及新材料與新能源研發等領域，能滿足從晶圓鍍膜、顯示面板薄膜到光學元件鍍膜、醫用植入物涂層、汽車玻璃膜層及新能源薄膜的高精度厚度檢測需求，助力各行業提升產品質量與研發效率。
- 型號：HD-FT50NIR
- 更新日期：2026-03-10 ￥面議
-
- HD-FT50UV非接觸式膜厚測量儀
非接觸式膜厚測量儀能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環境下也能穩定工作。能滿足從晶圓鍍膜、顯示面板薄膜到光學元件鍍膜、醫用植入物涂層、汽車玻璃膜層及新能源薄膜的高精度厚度檢測需求，助力各行業提升產品質量與研發效率。
- 型號：HD-FT50UV
- 更新日期：2026-06-17 ￥89000
-
- HD-FT50UV光學膜厚儀
光學膜厚儀HD-FT50UV是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環境下也能穩定工作。廣泛應用于半導體與微電子制造、顯示面板、光學器件制造、生物醫學、汽車及新材料與新能源研發等領域。
- 型號：HD-FT50UV
- 更新日期：2026-06-17 ￥89000
-
- HD-FT50UV反射膜厚測量儀
反射膜厚測量儀HD-FT50UV是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環境下也能穩定工作。廣泛應用于半導體與微電子制造、顯示面板、光學器件制造、生物醫學、汽車及新材料與新能源研發等領域。
- 型號：HD-FT50UV
- 更新日期：2026-06-17 ￥89000
-
- HD-FT50UV反射膜厚儀
反射膜厚儀HD-FT50UV是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環境下也能穩定工作。廣泛應用于半導體與微電子制造、顯示面板、光學器件制造、生物醫學、汽車及新材料與新能源研發等領域。
- 型號：HD-FT50UV
- 更新日期：2026-06-17 ￥89000
關鍵詞搜索：
食品檢測儀，土壤檢測儀，明渠流量計，水質檢測儀，cod氨氮檢測儀，余氯檢測儀，紅外測油儀，密封測試儀，定氮儀，紫外可見分光光度計
在線交流
咨詢電話
